文章 ID : S500038331 / 最後修改 : 22/02/2018

多重測光(multi-pattern metering)與聚光測光(spot metering)有什麼不同?

本文的適用產品及分類

多重測光(multi-pattern metering)與聚光測光(spot metering)之間的差異。

 


其差異如下:

在多重測光(Multi-pattern metering)中,影像會被分割為49(7x7)個區域,並為每個區域測光。相機會判斷物體位置與背景亮度,然後決定一個平衡的曝光值。請注意, Cyber-shot數位相機已預設為多重測光模式。


在聚光測光(Spot metering)中,只會在影像中央的一個小部分區域中 進行測光來決定曝光值。  這可讓 使用者 以強調拍攝物體的方式來拍攝影像,或是在物體與背景對比強烈時調整曝光值。